Dott. Giovanni Mana

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Metrologo con competenze sia teorico/matematiche che sperimentali/tecniche.  L’interesse principale è lo sviluppo delle conoscenze e tecnologie di misurazione per realizzare il kilogrammo contando atomi di silicio. Competenze in: fisica, matematica, misurazioni di precisione, costanti fondamentali, metrologia della lunghezza, misura e controllo di spostamenti alla scala atomica, teoria dinamica della propagazione dei raggi X, interferometria e diffrattometria ottica e X, ottica di Fourier, controlli automatici, analisi dati, statistica classica e Bayesiana, processi stocastici e analisi spettrale, criptanalisi, GF(2) algebra, Boolean satisfiability,  Hellman tradeoff, calcolo numerico e programmazione.

 

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Ultimo aggiornamento: 27/10/2015 10:32
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